运行中的电容器，其有功损耗包括介质损耗、极板和载流部分的电阻损耗，以及由集肤效应产生的附加损耗。通常，介质损耗占电容器总有功损耗的98％以上，介质损耗的大小，与介质的性能和状态有关，一般可按下式计算：

Ps=Q*tgδ*1000=2πfc*U*U*tgδ*1000000，瓦

式中Q为电容器的无功功率，千乏；
tgδ为介质损耗角正切值；
U为电容器运行电压，伏；
c为电容量，微法；
f为电压频率，Hz。

必须指出，介质损耗的大小直接影响电容器的温升。随着tgδ的增大，介质损耗增大，电容器内部绝缘发热温度升高，从而加速绝缘老化，降低绝缘寿命。